一、磁吸力原理測厚儀
利用*磁鐵測頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系可測量覆層的厚度，這個距離就是覆層的厚度，所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可以進行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形，所以磁性測厚儀應(yīng)用zui廣。測量儀基本結(jié)構(gòu)是磁鋼，拉簧，標尺及自停機構(gòu)。當(dāng)磁鋼與被測物吸合后，有一個彈簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大，當(dāng)拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來講，依不同的型號又不同的量程與適應(yīng)場合。
在一個約350°角度內(nèi)可用刻度表示0——100μm;0——1000μm;0——5mm等的覆層厚度，精度可達5%以上，能滿足工業(yè)應(yīng)用的一般要求。這種儀器的特點是操作簡單、強固耐用、不用電源和測量前的校準，價格也較低，很適合車間作現(xiàn)場質(zhì)量控制。
二、磁感應(yīng)原理測厚儀
磁感應(yīng)原理是利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準容易，可以實多種功能，擴大量程，提高精度，由于測試條件可降低許多，故比磁吸力式應(yīng)用領(lǐng)域更廣。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測頭放在被測物上后，儀器自動輸出測試電流，磁通的大小影響到感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示，精度和重復(fù)性都不好，后來發(fā)展了數(shù)字顯示式，電路設(shè)計也日趨完善。近年來引入微處理機技術(shù)及電子開關(guān)，穩(wěn)頻等技術(shù)，多種獲的產(chǎn)品相繼問世，精度有了很大的提高，達到1%,分辨率達到0.1μm，磁感應(yīng)測厚儀的測頭多采用軟鋼做導(dǎo)磁鐵芯，線圈電流的頻率不高，以降低渦流效應(yīng)的影響，測頭具有溫度補償功能。由于儀器已智能化，可以辨識不同的測頭，配合不同的軟件及自動改變測頭電流和頻率。
一臺儀器能配合多種測頭，也可以用同一臺儀器?？梢哉f，適用于工業(yè)生產(chǎn)及科學(xué)研究的儀器已達到了了非常實用化的階段。利用電磁原理研制的測厚儀，原則上適用所有非導(dǎo)磁覆層測量，一般要求基本的磁導(dǎo)率達500以上。覆層材料如也是磁性的，則要求與基材的磁導(dǎo)率有足夠大的差距（如鋼上鍍鎳層）。磁性原理測厚儀可以應(yīng)用在測量鋼鐵表面的油漆涂層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，化工石油行業(yè)的各種防腐涂層。對于感光膠片、電容器紙、塑料、聚酯等薄膜生產(chǎn)工業(yè)，利用測量平臺或輥（鋼鐵制造）也可用來實現(xiàn)大面積上任一點的測量。
三、電渦流原理測厚儀
電渦流測厚法主要應(yīng)用于金屬基體上各種非金屬涂鍍層的測量。
利用高頻交流電在作為探頭的線圈中產(chǎn)生一個電磁場，將探頭靠近導(dǎo)電的金屬體時，就在金屬材料中形成渦流，且隨與金屬體的距離減小而增大，該渦流會影響探頭線圈的磁通，故此反饋作用量是表示探頭與基體金屬之間間距大小的一個量值，因為該測頭用在非鐵磁金屬基體上測量覆層厚度，所以通常我們稱該測頭為非磁性測頭。非磁性測頭一般采用高頻高導(dǎo)磁材料做線圈鐵芯，常用鉑鎳合金及其它新材料制作。
與磁性測量原理比較，他們的電原理基本一樣，主要區(qū)別是測頭不同，測試電流的頻率大小不同，信號大小、標度關(guān)系不同。在的測厚儀中，通過不斷改進測頭結(jié)構(gòu)，在配合微電腦技術(shù)，由自動識別不同測頭來調(diào)用不同的控制程序，分別輸出不同的測試電流和改變標度變換軟件，終于使兩種不同類型的的測頭接與同一臺測厚儀上，降低了用戶負擔(dān)，基于同一思想，可配接達10種側(cè)頭的測厚儀極大地擴展了測厚范圍（達10萬倍以上），可測包括導(dǎo)磁材料表面上的非導(dǎo)磁覆層，導(dǎo)電材料上的非導(dǎo)電覆層及不導(dǎo)電材料上的導(dǎo)電層，基本上滿足了工業(yè)生產(chǎn)多數(shù)行業(yè)的需要。采用電渦流原理的測厚儀，原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。
有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。覆層材料也可以有一定的導(dǎo)電性，通過校準同樣也可以測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3——5倍以上（如銅上鍍鉻）。校準的原則是沒有覆層的校準試樣與被測物的基材應(yīng)有：成分相同，厚度相同（主要在于厚度小于儀器規(guī)定的zui小值約0.5mm以下時），有相同的曲率半徑，如被測面積小于儀器技術(shù)參數(shù)的要求（直徑約20mm以下），還應(yīng)有相同的被測面積。如覆層含有導(dǎo)電成份，校準試樣的覆層也應(yīng)與被測物的覆層有相同的導(dǎo)電性能。